AND-001薄膜测厚仪

AND-001薄膜测厚仪

 关键词：薄膜测厚仪   薄膜厚度仪  薄膜厚度计

主要用途及特点：

本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001标准。

技术参数：

测量范围：0-1㎜  

分度值：0.001㎜   

上测头曲率半径：15～50㎜

测头对试样施加负荷：0.1～0.5N