TIR 100-2红外热发射率测定仪

北京华瑞森科技tir 100-2红外热发射率测定仪            

产 地：德 国  （原装进口）

       tir100–2红外热发射率测定仪，应用范围广泛,可在数秒钟内快速确测定物体表面热发射率，实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
    tir 100-2红外热发射率测定仪可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。                             
    tir 100-2红外热发射率测定仪是众所周知的tir 100的更新设备，我们不但在tir 100-2红外热发射率测定仪中融入了tir 100的可靠技术，还高度集成了电子元件和舒适的触摸屏使设备更加轻巧和易于使用。
   内部微控制器可将发射器温度调节至恒定的100℃，同时记录传感器信号并配合存储的标准值将其转换为发射率的绝对值。
    大屏幕led显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。设备的核心部件是半球形的黑体，由于发射器涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为100℃，黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。
     tir 100-2红外热发射率测定仪内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量，并可在125℃中断加热过程。
热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号,超过97％的辐射能的波长在2.5 μm和40 μm范围之间。

应用：
1.镀膜玻璃的质量控制
  热保护绝缘玻璃的的低u-值取决于玻璃镀膜的低发射率，tir 100-2红外热发射率测定仪对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。
 2.太阳能收集器生产的质量控制
  优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率，因此tir 100-2红外热发射率测定仪也是此行业质量控制的理想设备
技术数据
测量范围                        < 0,020 … 0,980
精度                            +- 0,002
光谱范围                        2,5 μm - 40 μm
辐射能最大值                    8 μm                                 
黑体温度                        100 °c
积分时间                         5秒
测量点                           ~5 mm
额定功率                         130 w（230 v~/115 v~ (opt.)）
尺寸                             230毫米x 140毫米x 120毫米
重量                             2公斤
校准用标准                      低发射端：抛光铝
                                  高发射端:黑色遮光罩
参考发射率                        低发射端标准值~0,02
                                  高发射端标准值~0,98
                                  个别校准可参考国家物理实验室校准标准